飛機結(jié)構(gòu)缺陷漏檢概率評估與控制技術(shù)

提出了一種飛機結(jié)構(gòu)缺陷漏檢概率評估與控制技術(shù),利用該技術(shù)可以有效地提高單機乃至機群中缺陷(裂紋)檢出概率(POD),并可以對缺陷(裂紋)的漏檢概率進行準確地評估和控制,使飛機因裂紋漏檢而造成事故的可能性降至最低程度,從而確保飛機的安全飛行.

作 者： 劉登第 傅惠民 LIU Deng-di FU Hui-min   作者單位： 北京航空航天大學(xué),固體所,北京,100083  刊 名： 航空學(xué)報  ISTIC EI PKU 英文刊名： ACTA AERONAUTICA ET ASTRONAUTICA SINICA  年，卷(期)： 2000 21(3)  分類號： V216.3 V215.7  關(guān)鍵詞： 無損檢測   飛機結(jié)構(gòu)   可靠性   控制  

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