提高線陣采樣式光學遙感器圖像空間分辨率的新方法研究

介紹了提高采樣式光學遙感器圖像空間分辨率的國內外發(fā)展現(xiàn)狀,以任意兩維周期采樣理論為基礎,探索了一種通過把線陣探測器傾斜θ度而非常規(guī)線陣推掃的0°,同時把推掃方向的采樣間距縮短為P/m,而非常規(guī)線陣推掃的P的新焦平面采樣方法.該方法相對于常規(guī)線陣推掃采樣,可以增加采樣密度,提高圖像空間分辨率.在原理研究的基礎上,設計了一套實驗驗證系統(tǒng),通過實驗系統(tǒng)對該方法進行了物理及其可行性驗證.試驗結果表明:如果探測器陣列旋轉45°并且推掃方向采樣間距減半,相對常規(guī)線陣推掃采樣,圖像的空間分辨率可以提高1.64倍左右.相對于高模式采樣技術和超模式采樣技術,該方法避開了兩排錯位排列探測器的難題,因此工程實現(xiàn)上要簡單.

作 者： 周峰 王懷義 馬文坡 劉兆軍 ZHOU Feng WANG Huai-yi MA Wen-po LIU Zhao-jun   作者單位： 北京空間機電研究所,北京,100076  刊 名： 宇航學報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF ASTRONAUTICS  年，卷(期)： 2006 27(2)  分類號： V474.2  關鍵詞： 采樣式光學遙感器   單線陣探測器   高模式采樣   超模式采樣   傾斜采樣   空間分辨率  

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