鐵磁性納米線陣列的偏差對磁性的影響

用蒙特卡洛方法對納米線陣列磁滯回線進行模擬,研究了納米線排列、長度和直徑的偏差對納米線陣列整體磁學性質的影響.研究結果表明,納米線位置的標準偏差引起了矯頑力和磁化率降低;長度的標準偏差則僅僅引起飽和磁化強度的增大和剩余磁化強度的減小,而對矯頑力沒有影響;直徑的的標準偏差對納米線陣列產(chǎn)生了比較復雜的影響.

作 者： 郭艷蕊 嚴慧羽 宋慶功 陳逸飛 GUO Yan-rui YAN Hui-yu SONG Qing-gong CHEN Yi-fei   作者單位： 中國民航大學理學院,天津,300300  刊 名： 中國民航大學學報  ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF CIVIL AVIATION UNIVERSITY OF CHINA  年，卷(期)： 2009 27(6)  分類號： O488  關鍵詞： 納米線陣列   蒙特卡洛方法   磁滯回線  

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