我國專利綜合評價指標體系的設(shè)計與構(gòu)建

一、專利綜合評價指標體系中的各類指標 對于專利綜合評價指標體系中各類指標的設(shè)計,我們考慮應(yīng)該從專利活動的特征上來進行研究與設(shè)置,整個專利評價指標體系應(yīng)由投入、產(chǎn)出、運營、保護和效益五個摸塊組成.首先,專利活動是一項投入產(chǎn)出活動,專利是面向應(yīng)用的R&D活動的典型產(chǎn)出,進行專利開發(fā)不可避免地要進行科研投資,而投資的目的則是為了產(chǎn)出研究成果.

作 者： 葛仁良   作者單位： 廣東金融學院保險系  刊 名： 統(tǒng)計與決策  PKU CSSCI 英文刊名： STATISTICS AND DECISION  年，卷(期)： 2006 ""(15)  分類號： C8  關(guān)鍵詞：  

【我國專利綜合評價指標體系的設(shè)計與構(gòu)建】相關(guān)文章：

綜合評價自我評價范文07-26

綜合素質(zhì)評價自我評價12-30

高中綜合素質(zhì)評價自我評價12-20

學生綜合素質(zhì)評價自我評價01-25

高中綜合素質(zhì)評價自我評價07-12

綜合素質(zhì)評價自我評價通用05-11

綜合素質(zhì)評價學生自我評價09-14

綜合素質(zhì)評價評語11-10

綜合素質(zhì)自我評價12-05

綜合素質(zhì)的自我評價01-07